HT-YB-I玉米表型檢測儀

1.1 簡介

玉米表型檢測系統(tǒng)又稱玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。玉米表型檢測系統(tǒng)可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長研究等方面起到重要作用。

1.2 適用范圍：

1、玉米株型適用于室內(nèi)盆栽的玉米

2、玉米株高適用于大田玉米株高測量

3、千粒重適用于室內(nèi)考種測量

1.3 測量誤差

1、株高測量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%

2、玉米株型:測量范圍:0-1.8m，株高準確度: 1%，角度參數(shù)精度: 3%，其他參數(shù)準確度:5%

3、數(shù)粒精度誤差: 2%，修正后可達100%

1.4 硬件配置

1、手機支架: 用于手機固定拍攝

2、背景布: 黑色磨砂布面

3、背光板: 超薄發(fā)光板

4、數(shù)據(jù)采集器: 超大彩色屏手機

5、玉米株高測量桿: 移動測量式標定桿

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